一、高精度的測(cè)量能力 SANKO三高膜厚計(jì)具備較高的測(cè)量精度，能夠精確測(cè)量出薄膜涂層的厚度。在薄膜涂層工藝中，即使是微小的厚度差異也可能對(duì)產(chǎn)品的性能產(chǎn)生顯著影響。憑借其傳感技術(shù)和精密的測(cè)量算法，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)納米級(jí)別的薄膜厚度進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量，為生產(chǎn)工藝的精確控制提供了可靠的數(shù)據(jù)支持。
二、多種測(cè)量模式滿足不同需求
該膜厚計(jì)擁有多種測(cè)量模式，能夠適應(yīng)不同類(lèi)型薄膜涂層和不同基材的測(cè)量要求。無(wú)論是透明薄膜還是不透明薄膜，無(wú)論是平面基材還是曲面基材，都能輕松應(yīng)對(duì)。而SANKO三高膜厚計(jì)的特殊測(cè)量模式可以通過(guò)對(duì)光路的優(yōu)化和數(shù)據(jù)處理算法的調(diào)整，準(zhǔn)確測(cè)量出曲面薄膜的厚度，保證了光學(xué)元件的質(zhì)量。
三、非接觸式測(cè)量避免損傷
采用非接觸式測(cè)量方式，這一特性在薄膜涂層質(zhì)量檢測(cè)中具有極大的優(yōu)勢(shì)。傳統(tǒng)的接觸式測(cè)量方法可能會(huì)對(duì)脆弱的薄膜涂層造成損傷，影響其性能和外觀。通過(guò)光學(xué)原理進(jìn)行測(cè)量，無(wú)需與薄膜涂層直接接觸，既能獲取準(zhǔn)確的厚度數(shù)據(jù)，又能保證薄膜涂層的完整性。
四、實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)與過(guò)程控制
在薄膜涂層生產(chǎn)過(guò)程中，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)涂層的厚度變化對(duì)于保證產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要。可以與生產(chǎn)線集成，實(shí)現(xiàn)對(duì)薄膜涂層厚度的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。一旦發(fā)現(xiàn)厚度偏離設(shè)定值，系統(tǒng)可以及時(shí)發(fā)出警報(bào)并調(diào)整生產(chǎn)工藝參數(shù)，從而有效避免不合格產(chǎn)品的產(chǎn)生。這種實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和過(guò)程控制功能大大提高了生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定性。
SANKO三高膜厚計(jì)以其高精度、多種測(cè)量模式、非接觸式測(cè)量、實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)與過(guò)程控制以及數(shù)據(jù)分析與質(zhì)量追溯等優(yōu)勢(shì)，成為提升薄膜涂層質(zhì)量的核心工具。
更新時(shí)間：2025-03-10 
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